材料分析与表征
材料分析与表征
飞行时间二次离子质谱 TOF-SIMS
表面谱二维成像深度剖析
- 测试方式
- 表面谱 / 二维成像 / 深度剖析
- 仪器配置
- 按样品特性与目标尺度确认
- 服务报价
- 按测试与制样方案确认
- 检测周期
- 确认方案后安排排期
项目简介
测试模块
样品要求
样品状态与前处理
标记测试面并避免表面污染；注明目标离子、基底和真空兼容性。
随样提供的信息
填写元素或碎片、质量范围、区域及膜厚。；注明深度标定、溅射限制及有机物敏感性。
每份样品设置唯一编号，注明成分、保存条件及已知危险性。确认接收条件与收样地址后再寄出。
结果交付
离子谱、分布图或深度曲线，附极性、束流和处理条件。
原始图像或数据
采集条件记录
约定的分析结果
图像数量、文件格式、分析深度及报告用途在委托时约定。示意图用于解释结果形式，不作为真实检测案例。
常见问题
Q1信号强度可直接换成含量吗？
二次离子产额具有显著基质效应，绝对定量通常需要匹配参比与校准。
Q2送样前需要提供什么信息？
填写元素或碎片、质量范围、区域及膜厚。；注明深度标定、溅射限制及有机物敏感性。
Q3费用、周期与交付内容怎样确定？
按测试模式、样品状态、制样工作量和分析内容确认报价与排期。请在委托时明确原始文件、图表及报告用途。